Исследование структурных особенностей поверхности фотонно-кристаллической пленки методом атомно-силовой микроскопии

Московский Государственный Технический Университет им. Н.Э.Баумана (МГТУ им. Н.Э.Баумана)

11 - Электронные технологии в машиностроении

Кошелева Маргарита Александровна

Третий (бакалавриат)

Ибрагимов Артем Рустамович (МГТУ им. Н.Э. Баумана, кафедра "Электронные технологии в машиностроении")

В работе приведены результаты сканирования фотонно - кристаллической пленки из полистирольного монодисперсного латекса (PS) полуконтактным методом на атомно-силовом микроскопе. Проанализированы наиболее подходящие параметры сканирования для получения качественных изображений поверхности образца.

Кошелева М. А. Исследование структурных особенностей поверхности фотонно-кристаллической пленки методом атомно-силовой микроскопии. [Электронный ресурс] // Всероссийская научно-техническая конференция «Студенческая научная весна: Машиностроительные технологии»: материалы конференции, 22 – 26 апреля, 2024, Москва, МГТУ им. Н.Э.Баумана. – М.: ООО «КванторФорм», 2024.– URL: studvesna.ru?go=articles&id=3912 (дата обращения: 21.11.2024)