Доклады и статьи конференции

← Назад | Перейти в архив

Карточка работы #3912

Название
Исследование структурных особенностей поверхности фотонно-кристаллической пленки методом атомно-силовой микроскопии
Год
2024
Организация
Московский Государственный Технический Университет им. Н.Э.Баумана (МГТУ им. Н.Э.Баумана)
Секция
11 - Электронные технологии в машиностроении
Автор
Кошелева Маргарита Александровна
Курс обучения
Третий (бакалавриат)
Научный руководитель
Ибрагимов Артем Рустамович (МГТУ им. Н.Э. Баумана, кафедра "Электронные технологии в машиностроении")
Аннотация
В работе приведены результаты сканирования фотонно - кристаллической пленки из полистирольного монодисперсного латекса (PS) полуконтактным методом на атомно-силовом микроскопе. Проанализированы наиболее подходящие параметры сканирования для получения качественных изображений поверхности образца.
Тезисы
Дополнительные материалы
Библиографическая
ссылка
Кошелева М. А. Исследование структурных особенностей поверхности фотонно-кристаллической пленки методом атомно-силовой микроскопии. [Электронный ресурс] // Всероссийская научно-техническая конференция «Студенческая научная весна: Машиностроительные технологии»: материалы конференции, 22 – 26 апреля, 2024, Москва, МГТУ им. Н.Э.Баумана. – М.: ООО «КванторФорм», 2024.– URL: studvesna.ru?go=articles&id=3912 (дата обращения: 20.07.2024)
Если Вы обнаружили ошибку - пожалуйста, напишите нам
Сопредседатель оргкомитета конференции
Гладков Ю.А.