Доклады и статьи конференции

← Назад | Перейти в архив

Карточка работы #3779

Название
Влияние способа базирования на вероятность возникновения ошибок I и II рода
Год
2023
Организация
Московский Государственный Технический Университет им. Н.Э.Баумана (МГТУ им. Н.Э.Баумана)
Секция
4 - Метрология и взаимозаменяемость
Автор
Абрамова Дарья Михайловна
Курс обучения
Четвёртый (бакалавриат)
Научный руководитель
Корнеева Вера Михайловна (Доктор наук, Доцент, МГТУ им. Н.Э.Баумана, кафедра "Метрология и взаимозаменяемость")
Аннотация
Была произведена оценка влияния схемы базирования детали при измерении на вероятность возникновения ошибок I и II рода. Разработана программа для расчета ошибок I и II рода в зависимости от допуска на параметр, погрешности средства измерения и погрешности базирования.
Библиографическая
ссылка
Абрамова Д. М. Влияние способа базирования на вероятность возникновения ошибок I и II рода. [Электронный ресурс] // Всероссийская научно-техническая конференция «Студенческая научная весна: Машиностроительные технологии»: материалы конференции, 3 – 7 апреля, 2023, Москва, МГТУ им. Н.Э.Баумана. – М.: ООО «КванторФорм», 2023.– URL: studvesna.ru?go=articles&id=3779 (дата обращения: 16.06.2024)
Если Вы обнаружили ошибку - пожалуйста, напишите нам
Сопредседатель оргкомитета конференции
Гладков Ю.А.