Метрологическое обеспечение технологического процесса формирования опаловых наноструктура

Московский Государственный Технический Университет им. Н.Э.Баумана (МГТУ им. Н.Э.Баумана)

4 - Метрология и взаимозаменяемость

Звягина Юлия Александровна

Второй (магистратура)

Сырицкий Антони Борисович (Кандидат наук, Доцент, МГТУ им. Н.Э.Баумана, кафедра "Метрология и взаимозаменяемость")

В работе рассматривается процесс формирования опаловых наноструктур. Получены результаты измерений тонких плёнок. Выявлены параметры, влияющие на формирование покрытия. Подключены датчики, устраняющие помехи, разработаны схемы подключений.

Звягина Ю. А. Метрологическое обеспечение технологического процесса формирования опаловых наноструктура. [Электронный ресурс] // Всероссийская научно-техническая конференция «Студенческая научная весна: Машиностроительные технологии»: материалы конференции, 6 – 9 апреля, 2021, Москва, МГТУ им. Н.Э.Баумана. – М.: ООО «КванторФорм», 2021.– URL: studvesna.ru?go=articles&id=3276 (дата обращения: 25.10.2021)